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Feature Selection With Limited Bit Depth Mutual Information for Embedded Systems

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Laura_Morán-Fernández_2018_Feature_Selection_with_Limited_Bit_Depth_Mutual_Information_for_Embedded_Systems.pdf (168.5Kb)
Use este enlace para citar
http://hdl.handle.net/2183/21121
Atribución 4.0 Internacional
Excepto si se señala otra cosa, la licencia del ítem se describe como Atribución 4.0 Internacional
Colecciones
  • Investigación (FIC) [1683]
Metadatos
Mostrar el registro completo del ítem
Título
Feature Selection With Limited Bit Depth Mutual Information for Embedded Systems
Autor(es)
Morán-Fernández, Laura
Bolón-Canedo, Verónica
Alonso-Betanzos, Amparo
Fecha
2018-09-17
Cita bibliográfica
Morán-Fernández, L.; Bolón-Canedo, V.; Alonso-Betanzos, A. Feature Selection with Limited Bit Depth Mutual Information for Embedded Systems. Proceedings 2018, 2, 1187.
Resumen
[Abstract] Data is growing at an unprecedented pace. With the variety, speed and volume of data flowing through networks and databases, newer approaches based on machine learning are required. But what is really big in Big Data? Should it depend on the numerical representation of the machine? Since portable embedded systems have been growing in importance, there is also increased interest in implementing machine learning algorithms with a limited number of bits. Not only learning, also feature selection, most of the times a mandatory preprocessing step in machine learning, is often constrained by the available computational resources. In this work, we consider mutual information—one of the most common measures of dependence used in feature selection algorithms—with reduced precision parameters.
Palabras clave
Feature selection
Mutual information
Reduced precision
Embedded systems
Big Data
 
Descripción
Trátase dun resumo estendido da ponencia
Versión del editor
https://doi.org/10.3390/proceedings2181187
Derechos
Atribución 4.0 Internacional
ISSN
2504-3900

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