Caracterización de pizarras comerciales del NO de España a partir de DRX, microscopía electrónica (EMPA, SEM, TEM) y FRX

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dc.contributor.authorGómez-Fernández, F.
dc.contributor.authorWard, C.R.
dc.contributor.authorBauluz, B.
dc.date.accessioned2011-11-18T12:29:02Z
dc.date.available2011-11-18T12:29:02Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.citationCadernos do Laboratorio Xeolóxico de Laxe, 2009, 34: 127-142. ISSN: 0213-4497es_ES
dc.identifier.issn0213-4497
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2183/8361
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherUniversidade da Coruñaes_ES
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subjectRietveld methodes_ES
dc.subjectTruchas Synclinees_ES
dc.subjectElectron microscopyes_ES
dc.subjectElectron microprobees_ES
dc.titleCaracterización de pizarras comerciales del NO de España a partir de DRX, microscopía electrónica (EMPA, SEM, TEM) y FRXes_ES
dc.typejournal articlees_ES
dspace.entity.typePublication

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