Caracterización de pizarras comerciales del NO de España a partir de DRX, microscopía electrónica (EMPA, SEM, TEM) y FRX

Gómez-Fernández, F.Ward, C.R.Bauluz, B.2011-11-182011-11-182009Cadernos do Laboratorio Xeolóxico de Laxe, 2009, 34: 127-142. ISSN: 0213-44970213-4497http://hdl.handle.net/2183/8361spaRietveld methodTruchas SynclineElectron microscopyElectron microprobeCaracterización de pizarras comerciales del NO de España a partir de DRX, microscopía electrónica (EMPA, SEM, TEM) y FRXjournal articleopen access