Caracterización de pizarras comerciales del NO de España a partir de DRX, microscopía electrónica (EMPA, SEM, TEM) y FRX
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http://hdl.handle.net/2183/8361Coleccións
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Caracterización de pizarras comerciales del NO de España a partir de DRX, microscopía electrónica (EMPA, SEM, TEM) y FRXData
2009Cita bibliográfica
Cadernos do Laboratorio Xeolóxico de Laxe, 2009, 34: 127-142. ISSN: 0213-4497
Palabras chave
Rietveld method
Truchas Syncline
Electron microscopy
Electron microprobe
Truchas Syncline
Electron microscopy
Electron microprobe
ISSN
0213-4497
